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        新啟航半導(dǎo)體有限公司


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        07
        2026
        -
        07
        MEMS 腔體溝槽深度不均白光干涉檢測優(yōu)化工藝
        微機(jī)電系統(tǒng)(Micro-Electro-Mechanical System, MEMS)腔體溝槽(Trench Cavity)是傳感、封裝類器件的核心微結(jié)構(gòu),其深...
        MEMS 腔體溝槽深度不均白光干涉檢測優(yōu)化工藝
        07
        2026
        -
        07
        光學(xué) 3D 輪廓儀檢測 CMOS 芯片面形,優(yōu)化成像畫質(zhì)
        CMOS感光芯片的面形精度(Surface Shape Precision)是決定終端成像畫質(zhì)(Imaging Quality)的核心制程指標(biāo)。芯片表面翹曲、微觀...
        光學(xué) 3D 輪廓儀檢測 CMOS 芯片面形,優(yōu)化成像畫質(zhì)
        06
        2026
        -
        07
        噴油嘴密封面平面度(Sealing Surface Flat...
        摘要:高壓共軌(High Pressure Common Rail)噴油嘴深孔錐度(Taper)與密封面平面度(Flatness)耦合超差,是引發(fā)高壓燃油泄漏(H...
        噴油嘴密封面平面度(Sealing Surface Flatness)檢測,解決高壓滲漏(High-pressure Leakage)問題
        06
        2026
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        激光共聚焦小視野拼接缺陷及大視野白光干涉儀合規(guī)解決方案
        在半導(dǎo)體、精密制造領(lǐng)域,工件直線度與微觀形貌的精準(zhǔn)測量是質(zhì)量管控核心環(huán)節(jié)。激光共聚焦顯微鏡(LCM)小視野拼接檢測普遍存在波紋抖動(dòng)、形貌錯(cuò)位、數(shù)據(jù)失真等問題,無法...
        激光共聚焦小視野拼接缺陷及大視野白光干涉儀合規(guī)解決方案
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