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            新啟航半導體有限公司


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            超臨界CO?設備密封平面度對防滲漏性能的光學輪廓測量分析
            超臨界二氧化碳(Supercritical CO?, scCO?)設備長期處于高溫、高壓強滲透工況,密封端面平面度(Sealing Flatness)是管控介質滲...
            超臨界CO?設備密封平面度對防滲漏性能的光學輪廓測量分析
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            超薄薄膜表面(Ultra-thin Film Surface...
            摘要超薄薄膜(Ultra?thin Film)是微納光學、半導體(Semiconductor)、微機電系統(MEMS)器件的核心功能層。鍍膜(Coating)、磁...
            超薄薄膜表面(Ultra-thin Film Surface) 微納工藝異常的精準檢測: 白光干涉儀(White Light Interferometer, WLI) 技術優勢與應用實踐
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            骨植入體 孔隙深度 不均,白光干涉儀核驗醫用成型工藝
            多孔骨植入體(Porous Bone Implant)的孔隙深度(Pore Depth)是支撐骨組織浸潤、細胞錨定與軟組織貼合的關鍵三維參數。在3D打印、粉末燒結...
            骨植入體 孔隙深度 不均,白光干涉儀核驗醫用成型工藝
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            基于 白光干涉儀(White Light Interfer...
            摘要超薄薄膜工件(Ultra-thin Film Workpiece)廣泛應用于半導體晶圓(Wafer)、鈣鈦礦光伏膜層、微機電系統(MEMS)功能膜層等精密制造...
            基于  白光干涉儀(White Light Interferometer, WLI)大視場全域檢測的超薄薄膜工件(Ultra-thin Film Workpiece) 工藝缺陷甄別研究
            • 共82頁
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