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07

2026

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08

超光滑樣品（Ultra-smooth Sample）工藝畸變...

摘要超光滑樣品廣泛應(yīng)用于精密光學(xué)元件、半導(dǎo)體晶圓（Wafer）、微機(jī)電系統(tǒng)（MEMS）器件、鈣鈦礦功能薄膜等高端制造領(lǐng)域。樣品在拋光、鍍膜、轉(zhuǎn)運(yùn)制程中，易產(chǎn)生全域...

06

2026

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08

光學(xué)鏡片微觀(guān)形貌缺陷頻發(fā)，白光干涉儀全維度把控鏡頭量產(chǎn)品

光學(xué)鏡片（Optical Lens）量產(chǎn)加工過(guò)程中，受超精研磨、拋光工藝誤差、工裝夾持應(yīng)力、環(huán)境粉塵及清洗工藝影響，極易產(chǎn)生各類(lèi)微觀(guān)形貌缺陷。常見(jiàn)缺陷包含微觀(guān)劃痕...

06

2026

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08

光學(xué)輪廓測(cè)量在核電級(jí)硬密封閥門(mén)平面度檢測(cè)中的應(yīng)用

核電級(jí)硬密封閥門(mén)（Nuclear-grade Hard-seal Valve）是核電管路系統(tǒng)核心承壓密封構(gòu)件，其密封面平面度（Flatness）直接影響機(jī)組高低壓...

06

2026

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08

白光干涉儀（White Light Interferomet...

摘要超光滑樣品（Ultra-smooth Sample）是半導(dǎo)體晶圓、精密光學(xué)基底、微機(jī)電系統(tǒng)（MEMS）基底等高端制造領(lǐng)域的核心基材，其拋光、化學(xué)機(jī)械拋光（Ch...

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