穿透模式下，觀察光學探針在不同位置的耦合功率變化

反射模式下，觀察芯片反射功率隨距離的變化

雙探頭設計，滿足微米級耦合距離 的實時監控

更高精度要求下，多探頭設計，滿足更多維度的監控