全面優(yōu)化 FPC 柔性電路封裝制程,依托光學(xué) 3D 輪廓儀快速篩查板面翹曲不良(Warpage Defect)
發(fā)布時(shí)間:
2026-07-16
作者:
新啟航半導(dǎo)體有限公司

FPC柔性印刷電路(Flexible Printed Circuit)憑借高彎折性、輕量化優(yōu)勢(shì),廣泛應(yīng)用于消費(fèi)電子與半導(dǎo)體封裝領(lǐng)域,其封裝制程中產(chǎn)生的板面翹曲不良(Warpage Defect),是導(dǎo)致SMT貼片偏移、焊點(diǎn)虛焊(Cold Solder Joint)、模組貼合失效的核心制程缺陷。傳統(tǒng)人工檢測(cè)、二維影像檢測(cè)方式精度低、效率差,無(wú)法適配高精度FPC量產(chǎn)質(zhì)控需求。

全面優(yōu)化 FPC 柔性電路封裝制程,依托光學(xué) 3D 輪廓儀快速篩查板面翹曲不良(Warpage Defect)

全面優(yōu)化 FPC 柔性電路封裝制程,依托光學(xué) 3D 輪廓儀快速篩查板面翹曲不良(Warpage Defect)

全面優(yōu)化 FPC 柔性電路封裝制程,依托光學(xué) 3D 輪廓儀快速篩查板面翹曲不良(Warpage Defect)

本文基于IPC-6012行業(yè)規(guī)范開(kāi)展制程優(yōu)化,規(guī)范明確高密度FPC板材翹曲度閾值≤0.50%,常規(guī)板材閾值≤0.75%。引入高精度光學(xué)3D輪廓儀(3D Optical Profiler)非接觸式檢測(cè)方案,設(shè)備單次掃描可采集百萬(wàn)級(jí)板面數(shù)據(jù)點(diǎn),檢測(cè)精度可達(dá)±0.01mm,可快速生成板面3D形貌云圖,精準(zhǔn)定位局部形變、整體翹曲等各類(lèi)缺陷,規(guī)避傳統(tǒng)檢測(cè)漏檢、誤檢問(wèn)題。

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制程優(yōu)化同步結(jié)合應(yīng)力調(diào)控工藝,通過(guò)基材預(yù)烘烤(Pre-baking)、對(duì)稱(chēng)疊層結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)、分段恒溫壓合工藝,釋放FPC基材殘余內(nèi)應(yīng)力,從源頭降低翹曲缺陷發(fā)生率。同時(shí)建立可視化檢測(cè)體系,將3D掃描數(shù)據(jù)與MES生產(chǎn)執(zhí)行系統(tǒng)(Manufacturing Execution System)聯(lián)動(dòng),實(shí)現(xiàn)翹曲不良實(shí)時(shí)篩查、數(shù)據(jù)溯源與制程參數(shù)閉環(huán)修正。該優(yōu)化方案可顯著提升FPC封裝良率,適配高精度微電子封裝量產(chǎn)標(biāo)準(zhǔn)。

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新啟航半導(dǎo)體|專(zhuān)業(yè)白光干涉 3D 輪廓測(cè)量方案。亞納米精度保障,支持自動(dòng)化定制;高端系列對(duì)標(biāo)國(guó)際一線(xiàn)品牌,大視野設(shè)計(jì),輕松應(yīng)對(duì)高低反射、復(fù)雜材料測(cè)量場(chǎng)景。


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