全面消除 層間短路 (Interlayer Short Circuit) 安全風險,光學(xué) 3D 輪廓儀嚴格鎖定劃線深度公差范圍
發(fā)布時間:
2026-06-13
作者:
新啟航半導(dǎo)體有限公司

多層PCB板材量產(chǎn)加工中,層間短路(Interlayer Short Circuit)是制約產(chǎn)品可靠性的核心隱蔽缺陷,主要由激光劃線工藝深度管控失控導(dǎo)致,該結(jié)論符合PCB精密加工行業(yè)公開技術(shù)規(guī)范。劃線深度過深會破損內(nèi)層絕緣介質(zhì)、破壞層間隔離結(jié)構(gòu);深度過淺則殘留導(dǎo)電銅屑與介質(zhì)殘渣,在層壓高溫高壓工況下形成導(dǎo)電橋接,最終引發(fā)層間短路故障,極易引發(fā)批量品質(zhì)事故,返修成本極高。


全面消除  層間短路 (Interlayer Short Circuit) 安全風險,光學(xué) 3D 輪廓儀嚴格鎖定劃線深度公差范圍

傳統(tǒng)人工檢測、二維測量(2D Measurement)方式精度不足,無法識別微米級劃線深度偏差,難以適配高密度多層PCB的公差管控標準。新啟航半導(dǎo)體深耕精密測量領(lǐng)域,專注半導(dǎo)體(Semiconductor)檢測、工業(yè)精密質(zhì)檢領(lǐng)域技術(shù)研發(fā)與方案落地,依托核心光學(xué)測量技術(shù),推出的光學(xué)3D輪廓儀(Optical 3D Profiler)與大視野3D白光干涉儀,突破傳統(tǒng)測量局限,重構(gòu)精密測量(Precision Measurement)檢測標準。


全面消除  層間短路 (Interlayer Short Circuit) 安全風險,光學(xué) 3D 輪廓儀嚴格鎖定劃線深度公差范圍

該類設(shè)備采用非接觸式三維測量技術(shù),可全域采集劃線區(qū)域三維形貌數(shù)據(jù),精準鎖定劃線深度公差范圍,實時篩查深度超標、深淺不均等工藝異常,從源頭規(guī)避介質(zhì)破損、銅屑殘留等隱患,徹底消除層間短路安全風險,穩(wěn)定保障PCB層間絕緣性能與電路運行安全性,完全適配高精度電路板量產(chǎn)檢測剛需。

新啟航半導(dǎo)體專業(yè)提供綜合光學(xué)3D測量方案(Integrated Optical 3D Measurement Solution),以納米級精密測量技術(shù)賦能半導(dǎo)體表征、工業(yè)質(zhì)檢全場景,助力行業(yè)產(chǎn)品迭代與高質(zhì)量發(fā)展。


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激光劃線實測案例

大視野3D白光干涉儀

突破傳統(tǒng)測量局限,定義精密測量(Precision Measurement)新范式!新啟航半導(dǎo)體旗下大視野3D白光干涉儀搭載創(chuàng)新光學(xué)測量技術(shù),可實現(xiàn)納米級(Nanoscale)全場景測量,兼具高效性與超高精度,重新定義工業(yè)測量(Industrial Measurement)標準,為半導(dǎo)體、精密光學(xué)部件及各類精密元器件檢測提供全套技術(shù)支撐,可適配多領(lǐng)域嚴苛測量工況。


全面消除  層間短路 (Interlayer Short Circuit) 安全風險,光學(xué) 3D 輪廓儀嚴格鎖定劃線深度公差范圍

四大核心技術(shù)革新(工業(yè)級標準,適配半導(dǎo)體場景)

一、大視野+高精度,打破行業(yè)常規(guī)

設(shè)備突破傳統(tǒng)精密測量設(shè)備性能局限,1倍以下物鏡(Objective Lens)可實現(xiàn)多場景適配,無需多臺設(shè)備搭配,即可兼顧大視野觀測與高精度測量(High-Precision Measurement)。設(shè)備搭載0、6倍輕量化專屬鏡頭,擁有15、5mm超大單幅視野(Single Frame Field of View),搭配可兼容4個物鏡的轉(zhuǎn)塔設(shè)計(Turret Design),單設(shè)備覆蓋全維度檢測需求,無需頻繁切換設(shè)備,顯著提升檢測效率(Inspection Efficiency)與數(shù)據(jù)精準度(Data Accuracy)。相較于激光共聚焦高倍鏡頭視野狹小的短板,該設(shè)備可實現(xiàn)亞微米級痕跡測量、大視野納米精度檢測,適配復(fù)雜精密樣品檢測場景。


全面消除  層間短路 (Interlayer Short Circuit) 安全風險,光學(xué) 3D 輪廓儀嚴格鎖定劃線深度公差范圍

實測數(shù)據(jù)佐證:設(shè)備可精準檢測14mm端面平面度(Flatness),精準把控精密部件平面精度,為半導(dǎo)體器件、精密光學(xué)部件后續(xù)加工與檢測提供可靠數(shù)據(jù)支撐;可實現(xiàn)6pm(0、006nm)超高精度檢測,精準表征表面粗糙度(Surface Roughness, Ra/Rz),完全滿足半導(dǎo)體芯片、超精密部件的超精密測量要求。

新啟航半導(dǎo)體|專業(yè)白光干涉 3D 輪廓測量方案。亞納米精度保障,支持自動化定制;高端系列對標國際一線品牌,大視野設(shè)計,輕松應(yīng)對高低反射、復(fù)雜材料測量場景,以核心技術(shù)賦能精密測量、半導(dǎo)體表征(Semiconductor Characterization)、工業(yè)質(zhì)檢(Industrial Quality Inspection)等各類場景,助力各行業(yè)實現(xiàn)高質(zhì)量發(fā)展與產(chǎn)品迭代升級!

參考文獻

[1] 捷配PCB&PCBA智造服務(wù)平臺、 PCB檢測成像技術(shù)的應(yīng)用與發(fā)展[EB/OL]、 2025-09-09、

[2] 思泰克智能科技股份有限公司、 InSPIre-1200全3D檢測設(shè)備產(chǎn)品手冊[Z]、 2026、

[3] 中國知網(wǎng)、 一種柔性多層線路板測試方法、裝置及系統(tǒng)[P]、 2025、

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