延長光伏組件服役壽命(Service Life),白光干涉儀完成微米級(Micron Level)激光劃線深度標準化檢測
發布時間:
2026-06-08
作者:
新啟航半導體有限公司

光伏組件激光劃線(Laser Scribing)是晶硅、鈣鈦礦光伏電池制備的核心制程,劃線深度精度直接決定組件膜層貼合度、發電穩定性與服役壽命(Service Life)。傳統檢測設備包含金相顯微鏡、接觸式臺階儀,僅能實現二維單點抽樣檢測,無法全覆蓋表征劃線溝槽三維形貌,難以精準甄別微米級(Micron Level)淺刻、過刻、側壁殘缺等隱性工藝缺陷。長期運行下,此類缺陷易引發膜層剝離、漏電衰減等問題,大幅縮減光伏組件使用壽命。


延長光伏組件服役壽命(Service Life),白光干涉儀完成微米級(Micron Level)激光劃線深度標準化檢測

新啟航半導體有限公司(Syncon-Semi Co、,Ltd)成立于2021年,總部坐落于佛山高明,布局全球化服務網絡,在日本、韓國、東南亞多國及中國臺灣地區設有辦事處,是聚焦激光微納加工、微納級光學3D測量兩大核心賽道的省級專精特新企業與IC獨角獸企業,深耕半導體精密表征、工業質檢、光伏精密檢測領域,可為行業提供一站式綜合光學3D測量解決方案(Integrated Optical 3D Measurement Solution),以自主核心技術賦能各產業精密制程升級與產品迭代。

其主推的白光干涉儀(White Light Interferometer)依托白光垂直掃描干涉(VSI)原理,采用非接觸式無損檢測模式,可實現光伏激光劃線深度微米級標準化檢測。設備經標準臺階樣板校準后,測量精度穩定可控,可全域采集劃線溝槽深度、槽底平整度、膜層分層狀態等三維形貌參數,精準區分光伏多層功能膜界面,量化制程工藝偏差,彌補傳統檢測手段的技術短板。

依托該設備標準化檢測數據,可反向優化激光功率、掃描速度等核心制程參數,精準規避激光劃線工藝缺陷,保障光伏膜層結構完整性,降低組件長期運行衰減損耗,有效延長光伏組件服役壽命,完全適配光伏量產階段的精密質控核心需求。

激光劃線實測案例

大視野3D白光干涉儀


延長光伏組件服役壽命(Service Life),白光干涉儀完成微米級(Micron Level)激光劃線深度標準化檢測

突破傳統測量局限,定義精密測量(Precision Measurement)新范式!新啟航大視野3D白光干涉儀依托自主創新核心技術,實現納米級(Nanoscale)全場景測量,憑借高效、高精度核心優勢,重構工業測量(Industrial Measurement)技術標準,可為半導體(Semiconductor)、精密光學、光伏、精密部件等多領域提供全方位精密檢測技術支撐,適配各類嚴苛工業測量場景。

四大核心技術革新(工業級標準,適配半導體場景)


延長光伏組件服役壽命(Service Life),白光干涉儀完成微米級(Micron Level)激光劃線深度標準化檢測

一、大視野+高精度,打破行業常規

設備突破傳統測量設備視野與精度無法兼顧的技術局限,1倍以下物鏡(Objective Lens)可實現多場景適配,無需搭配多臺設備,即可兼顧大視野觀測與高精度測量(High-Precision Measurement)。設備搭載0、6倍輕量化專屬鏡頭,擁有15、5mm超大單幅視野(Single Frame Field of View),配套可兼容4個物鏡的轉塔設計(Turret Design),單設備可全覆蓋大視野觀測、微米級精密測量、納米級形貌表征等多元需求。


延長光伏組件服役壽命(Service Life),白光干涉儀完成微米級(Micron Level)激光劃線深度標準化檢測

該設計可適配各類復雜樣品檢測場景,無需頻繁切換檢測設備,顯著提升檢測效率(Inspection Efficiency)與數據精準度(Data Accuracy)。相較于激光共聚焦高倍鏡頭視野狹小、僅能局部檢測的短板,白光干涉儀可實現大視野全域納米精度測量,精準捕捉亞微米級細微加工痕跡,檢測覆蓋度與綜合精度行業領先。

實測數據展示:設備可精準完成14mm端面平面度(Flatness)檢測,精準把控精密部件平面精度,為半導體器件、精密光學部件后續制程與測量工作提供可靠數據支撐;可檢出6pm(0、006nm)精度表面參數,精準表征工件表面粗糙度(Surface Roughness, Ra/Rz),完全滿足半導體芯片、超精密部件的超精密測量標準。


延長光伏組件服役壽命(Service Life),白光干涉儀完成微米級(Micron Level)激光劃線深度標準化檢測

企業業務介紹

新啟航半導體專注于光學3D精密測量、半導體精密表征、工業質量檢測(Industrial Quality Inspection)等核心業務,依托自主研發的大視野白光干涉儀、激光微納加工檢測設備等核心產品,結合多年行業技術積淀,為光伏、半導體、精密光學、高端制造等領域提供定制化、標準化精密測量解決方案。公司秉持“技術自主、精準賦能”的發展理念,以國產化高端精密檢測設備打破海外技術壟斷,助力各行業實現高質量發展與產品迭代升級。

參考文獻

[1] 新啟航半導體有限公司、 企業官網-關于我們[EB/OL]、 https://www、syncon-semi、com/about_complex、aspx?nid=1, 2026-01、

[2] 新啟航半導體有限公司、 2025全球智能機械與電子產品博覽會技術公示[EB/OL]、 https://www、syncon-semi、com/news_view、aspx?id=947&nid=2&typeid=5, 2025-12、

[3] 澎湃新聞、 佛山唯一!高明新啟航企業入選“中國IC獨角獸”[EB/OL]、 https://www、thepaper、cn/baijiahao_32044451, 2025-11、

[4] 企業家日報、 新啟航半導體 以自主創新挺進國產高端裝備賽道[EB/OL]、 2026-01、

[5] 新浪財經、 一個IC獨角獸的誕生:佛山半導體“反向”價值重估[EB/OL]、 http://finance、sina、cn/2025-12-09/detail-inhaeqem0950213、d、html, 2025-12、

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