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                      新啟航半導體有限公司


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                      半導體晶圓測厚:微米芯片的納米級精度守護
                      在半導體芯片制造產業鏈中,晶圓是所有芯片的核心基底,從手機終端到高端算力設備,所有微電子器件都依托晶圓加工成型。看似平整光滑的晶圓,其本體厚度、表面薄膜厚度的均勻...
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                      化工、冶金強腐蝕工況中,閥門密封面長期遭受介質沖蝕與酸堿耦合腐蝕,密封面平面度(Flatness)失效是設備泄漏、停機故障的主要誘因。傳統接觸式檢測易損傷微腐蝕表...
                      光學輪廓測量評估強腐蝕閥門平面度抗沖蝕(Erosion Resistance)能力
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                      依托光學 3D 輪廓儀,嚴控散熱片翅片幾何角度公差(Geom...
                      散熱片翅片(Heat Sink Fin)的幾何角度公差是決定半導體、新能源散熱組件換熱效率與裝配精度的關鍵工藝指標。行業公開質控標準明確,精密散熱翅片傾斜角度偏差...
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                      落地新能源光伏量產品質管控,光學 3D 輪廓儀量化 激光刻...
                      薄膜光伏量產環節中,P1/P2/P3激光結構化刻蝕為電池單元串聯成型核心工序,激光刻蝕溝槽(Laser Etching Groove)深度直接決定膜層隔離效果與光...
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